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ASD光譜儀分析利用近紅外和可見光范圍內的反射與輻射光譜，通過對樣本的分析來確定其化學、物理或生物特性。該儀器使用光源照射樣品表面，收集樣品表面反射的光譜，并將其分離成不同波長區間的能量級別。該設備可以提供有關土壤、植被、水、大氣和其他材料中的元素、化合物或分子組成的信息。
目前，TerraSpec®系列礦物光譜儀已被大多數地質研究領域*為更好的設備。升級版的TerraSpec 4 Hi-Res高精度礦物光譜儀光譜分辨率可達6nm，設計上高度便攜，堅固耐用，并具有無線擴展功能。用戶將以更快的速度實現礦物勘探。這款設備在SWIR 1和SWIR 2光譜范圍內性能增強，便于進行更快速、準確、無損的光譜數據采集，尤其適用于深色礦物分析。
TerraSpec Hi-Res改進的性能為礦產勘探地質學家提高了數據采集速度并改善了數據質量。增強的性能將使該光譜儀可用于測量低密度和低反射率的礦物(如蛇紋石和綠泥石等含鐵礦物)，這些物質之前很難進行測量。目前，TerraSpec 4 Hi-Res礦物分析儀已經被廣泛用于礦物勘探領域，包括礦產制圖。
一、應用
礦物勘探
礦產制圖
礦物成分鑒定
鉆屑分析
巖芯編錄
早期探礦
二、優點：
1、增強的光纖性能將提供更加準確和清晰的光譜數據。
2、SWIR1/SWIR2光譜范圍內2倍的性能提升將有助于更好的進行蝕變礦物分析。
3、改進的便攜特性(新款背包和標配的802.11g WiFi)使得用戶在勘探現場的移動更加靈活。
4、無損測量，提高了野外光譜掃描的速度。
三、性能：
波長范圍：350~2500 nm
光譜分辨率：3nm @ 700 nm
6nm @ 1400/2100 nm
掃描速率：100ms
信號噪聲比(N/S)：
VNIR 9000:1@ 700 nm
SWIR 1 9000:1@ 1400 nm
SWIR 2 4000:1@ 2100 nm
雜散光：VNIR: 5000:1(0.02%)
NIR: 10000:1(0.01%)
波長重復性：0.1nm
波長準確性：0.5nm
通道數：2151
VNIR檢測器：(350-1000nm)512 Si陣列
SWIR 1 & SWIR 2 檢測器：(1001-1800nm)&(1801-2500nm)梯度折射InGaAs陣列，TE制冷
通訊 Communication
有線：10/100 Base T以太網端口，以太網交叉電纜
無線：802.11g無線網卡
物理參數 Physical & Environmental
尺寸(H×W×D) 12.7 × 36.8 × 29.2 cm
主機重量：5.44 kg(12 lbs)
電池重量：1.2kg(2.7lbs)
電池運行時間：約6小時(未接光源或其他附件)
工作溫度：0~40 ℃
存儲溫度：-15~45 ℃
輸入電源：AC/DC開關電源和密封鉛酸膠體電池
AC輸入：90-240VAC, 50/60Hz
DC輸入：12VDC, 60W
輔助端口電源：輸出，+12VDC,27Watt
附件 Additional Details
軟件：RS3™光譜采集軟件(同SpecMin，ENVI等地學軟件兼容)
ViewSpecPros™后處理軟件，可選Indico® Pro軟件
移動裝置：堅固的儀器運輸箱，可定制的野外背包(含軟質旅行包)
質保：一年免費保修，包括專家的客戶支持
電腦：Windows®7 64位筆記本電腦(儀器控制系統)
產地：英國ASD
